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申请/专利权人：西安西谷微电子有限责任公司
申请日：2023-11-21
公开（公告）日：2024-06-04
公开（公告）号：CN221078871U
主分类号：G01R31/317
分类号：G01R31/317
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.04#授权
摘要：本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于J750EX‑HD的JDSPF28335型数字信号处理器电路的测试装置，其包括：测试基板，所述测试基板为适配J750EX‑HD内部的板卡，并且所述测试基板设有芯片连接座以及与所述芯片连接座电性连接的连接器和谐振器插座；所述芯片连接座适配JDSPF28335型数字信号处理器电路芯片；所述芯片连接座与所述连接器之间设有多个电阻插座、多个电容插座、多个电感插座、多个开关插座、多个电源插座、JTAG插座。本实用新型通过新的测试基板优化了JDSPF28335型数字信号处理器电路的测试方法，降低测试环境的开发和成本满足测试并比高测试速度和精度。
主权项：1.一种基于J750EX-HD的JDSPF28335型数字信号处理器电路的测试装置，其特征在于,包括：测试基板1，所述测试基板1为适配J750EX-HD内部的板卡，并且所述测试基板1设有芯片连接座2以及与所述芯片连接座2电性连接的连接器3和谐振器插座4；所述芯片连接座2适配JDSPF28335型数字信号处理器电路芯片；所述芯片连接座2与所述连接器3之间设有多个电阻插座5、多个电容插座6、多个电感插座7、多个开关插座8、多个电源插座9、JTAG插座10。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安西谷微电子有限责任公司 一种基于J750EX-HD的JDSPF28335型数字信号处理器电路的测试装置
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