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申请/专利权人：株式会社爱德万测试
申请日：2023-10-31
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118150410A
主分类号：G01N15/02
分类号：G01N15/02;G01N15/00
优先权：["20221206 JP 2022-195237"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.07#公开
摘要：本发明提供能够改善测定精度的孔设备。孔芯片400具备具有孔412的膜片410。在将孔412的直径设为d并将膜片410的厚度设为t时，满足1≤td＜2的关系。
主权项：1.一种孔芯片，其特征在于，所述孔芯片具备具有孔的膜片，在将所述孔的直径设为d并将所述膜片的厚度设为t时，满足1≤td＜2的关系。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社爱德万测试 孔芯片及微粒测定系统
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皖公网安备 34010402703815号