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申请/专利权人：成都佰维存储科技有限公司
摘要：本申请实施例提供了一种UFS寿命测试方法、装置、电子设备及介质，属于自动化测试技术领域。其中方法包括：执行UFS寿命测试，得到UFS寿命测试数据；基于预设操作系统确定检测接口，通过检测接口查询UFS寿命测试数据；判断UFS寿命测试数据是否达到UFS综合性能判别条件、UFS驱动判别条件、存储单元新增坏块数量判别条件；若UFS综合性能判别条件、UFS驱动判别条件、存储单元新增坏块数量判别条件均达到，则UFS寿命测试通过。通过本申请提供的UFS寿命测试方法，可以客观评价UFS测试的各个阶段的测试结果是否可靠，提高UFS寿命测试的准确性。
主权项：1.一种UFS寿命测试方法，其特征在于，所述方法包括：执行UFS寿命测试，得到UFS寿命测试数据；所述UFS寿命测试数据包括：UFS综合性能测试、UFS驱动测试和存储单元新增坏块测试；基于预设操作系统确定检测接口，通过所述检测接口查询所述UFS寿命测试数据；判断所述UFS寿命测试数据是否达到UFS综合性能判别条件、UFS驱动判别条件、存储单元新增坏块数量判别条件；若所述UFS综合性能判别条件、所述UFS驱动判别条件、所述存储单元新增坏块数量判别条件均达到，则所述UFS寿命测试通过。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都佰维存储科技有限公司 UFS寿命测试方法、装置、电子设备及介质
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