龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所
摘要：本说明书公开了一种利用调制光晶格测量晶格布洛赫能带整体能隙结构的方法，用于解决在现有中，对于S带P带的结构多由理论计算得出，而不便从实验上得到的问题。本方法包括：获取超冷原子，并绝热加载超冷原子的光晶格到较低阱深，使超冷原子处在布洛赫能带的最低能带S带上；通过声光调制器在光晶格中加入第一振荡，将超冷原子从S带加载到P带，获取S带和P带位置的能隙；经过等待时间，使超冷原子自由演化后，通过声光调制器再次在光晶格中加入第二振荡，使得超冷原子回到S带，得到S带和P带的能级间隔图像。本发明能够从实验上得到最低两个布洛赫能带S带，P带的结构。
主权项：1.一种利用调制光晶格测量晶格布洛赫能带整体能隙结构的方法，其特征在于，所述方法包括：获取超冷原子，并绝热加载所述超冷原子的光晶格到低阱深带，使所述超冷原子处在布洛赫能带的最低能带S带上；通过声光调制器在光晶格中加入第一振荡，将所述超冷原子从所述S带加载到P带，获取所述S带和所述P带位置处的能隙；q为动量坐标；h、k分别为动量单位；通过所述声光调制器再次在所述光晶格中加入第二振荡，使得所述超冷原子回到所述S带，得到所述S带和所述P带的能级间隔图像；基于所述S带和所述P带位置处以及所述S带和所述P带之间的能级间隔图像得到所述S带和所述P带整体能隙结构。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种利用调制光晶格测量晶格布洛赫能带整体能隙结构的方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号