申请/专利权人：北京振兴计量测试研究所

申请日：2019-07-24

公开（公告）日：2024-06-07

公开（公告）号：CN112285524B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.07#授权;2021.02.23#实质审查的生效;2021.01.29#公开

摘要：本发明提出一种混合集成电路老炼试验工装及方法，包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构，老炼板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，器件固定结构和测试结构安装在承载板上，测试结构对称分布在器件固定结构两侧，器件固定结构固定待测器件。本发明采用了特殊的测试结构，金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。

主权项：1.一种混合集成电路老炼试验工装，其特征在于：包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构，老炼板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，器件固定结构和测试结构安装在承载板上，测试结构对称分布在器件固定结构两侧，器件固定结构固定待测器件；所述的测试结构包括测试第一固定载板、测试第二固定载板、探针结构、框架锁紧结构和移动载板，测试第一固定载板和测试第二固定载板固定安装在承载板上，框架锁紧结构安装在承载板上，用于移动载板在测试位置和非测试位置的定位；所述的探针结构由探针安装板和若干金属弹簧探针构成，金属弹簧探针安装在探针安装板的一端，探针安装板的另一端固定安装在移动载板上，测试第一固定载板和测试第二固定载板之间连接有导向结构，移动载板通过导向结构在测试第一固定载板和测试第二固定载板之间移动，带动探针结构从两端向待测器件管脚移动，金属弹簧探针与待测器件管脚侧面接触，框架锁紧结构将移动载板固定在测试位置；所述的框架锁紧结构由对称分布在测试第二固定载板两端的第一框架和第二框架构成，第一、二框架分别通过框架转轴安装在承载板上，第一、二框架由固定端、连接部和捏合端组成，固定端加工凹槽和端部凹槽，弹簧压缩后分别安装在第一、二框架连接部和测试第二固定载板之间，在移动载板移动过程中，使得第一、二框架与测试第二固定载板保持接触，移动载板非测试时，两端分别插入到第一、二框架的凹槽中固定位置，测试时，第一、二框架的捏合端相向用力，在弹簧作用下，第一、二框架的固定端张开，移动载板两端脱离凹槽，移动载板沿导向结构带动探针安装板向待测器件方向移动，待测器件管脚侧面与金属弹簧探针接触后，移动载板两端位于第一、二框架的端部凹槽内，固定移动载板位置，进而将探针安装板的位置固定；所述的导向结构由导向柱、第一导向筒和第二导向筒组成，第一导向筒固定连接在测试第一固定载板上，导向柱穿在第一导向筒内，并固定在测试第一固定载板上，第二导向筒固定在移动载板上，第一导向筒穿过移动载板，导向柱与第一、第二导向筒配合，移动载板可以沿导向柱和第一、第二导向筒移动；所述的器件固定结构包括第一固定载板、第二固定载板、盖板和扣板，第一固定载板和第二固定载板固定在承载板上，转轴固定安装在第一固定载板上，盖板的固定端通过转轴安装在第一固定载板上，盖板的非固定端与扣板一端连接，扣板另一端呈钩状，当扣板扣在第二固定载板上时，将盖板固定在第一固定载板、第二固定载板之间，盖板下固定待测器件，当扣板松开，不扣在第二固定载板上时，盖板绕转轴旋转打开，可以装卸待测器件。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京振兴计量测试研究所 一种混合集成电路老炼试验工装及方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD