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【发明授权】模态试验预载施加装置、模态试验系统及预载施加方法_北京机电工程研究所_202111385693.7 

申请/专利权人:北京机电工程研究所

申请日:2021-11-22

公开(公告)日:2024-06-07

公开(公告)号:CN114295465B

主分类号:G01N3/00

分类号:G01N3/00;G01M13/00;B64F5/60

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.07#授权;2022.04.26#实质审查的生效;2022.04.08#公开

摘要:本发明提供了一种模态试验预载施加装置、模态试验系统及预载施加方法,该装置包括预载施加单元、预载反馈单元和预载控制单元,预载施加单元用于对试验件施加预载;预载反馈单元用于获取预载施加的时间和试验件的法向位移;预载控制单元用于根据时间和法向位移计算得出预载的值以及比较预载的值与预设预载值的大小,并且在预载的值大于预设预载值时控制预载施加单元减小施加在试验件上的预载,在预载的值小于预设预载值时控制预载施加单元增大施加在试验件上的预载。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中预载无法自适应精确调整、无法获取稳定完整的模态参数的技术问题。

主权项:1.一种模态试验预载施加装置,其特征在于,所述装置包括:预载施加单元10,所述预载施加单元10用于对试验件20施加预载,所述预载施加单元10包括第一磁体11、第二磁体12和磁力控制部13,所述第一磁体11设置在所述试验件20上,所述预载控制单元40通过所述磁力控制部13控制所述第一磁体11与所述第二磁体12之间的磁力大小以对施加在所述试验件20上的预载的大小进行控制;预载反馈单元30,所述预载反馈单元30用于获取所述预载施加的时间和所述试验件20的法向位移;预载控制单元40,所述预载控制单元40用于根据所述时间和所述法向位移计算得出所述预载的值以及比较所述预载的值与预设预载值的大小,并且在所述预载的值大于所述预设预载值时控制所述预载施加单元10减小施加在所述试验件20上的预载,在所述预载的值小于所述预设预载值时控制所述预载施加单元10增大施加在所述试验件20上的预载;通过下式根据所述时间和所述法向位移计算得出所述预载的值: 上式中,F表示所述预载的值,K表示所述第一磁体和所述第二磁体所构成的整体的刚度,C表示所述第一磁体和所述第二磁体所构成的整体的阻尼,st表示所述试验件在任意瞬时t的法向位移,s0t表示所述试验件在自身静止重量下所产生的静形变,表示所述试验件在任意瞬时t的法向位移的微分,表示所述试验件在自身静止重量下所产生的静形变的微分。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京机电工程研究所 模态试验预载施加装置、模态试验系统及预载施加方法

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