申请/专利权人：无锡玖熠半导体科技有限公司

申请日：2023-02-10

公开（公告）日：2024-06-07

公开（公告）号：CN116106729B

主分类号：G01R31/3183

分类号：G01R31/3183;G01R31/3185

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.07#授权;2023.05.30#实质审查的生效;2023.05.12#公开

摘要：本申请公开基于代价损失因子的扫描链及组合逻辑故障诊断方法，涉及EDA检测领域，通过检测待测芯片找出所有故障扫描链并判断故障类型；使用ATPG测试模式集来确定故障扫描链中可疑扫描单元的可疑范围；依次在可疑范围内的每个候选扫描单元注入与故障扫描链相同类型的故障，通过比较候选扫描单元的模拟响应及故障电路响应计算故障扫描链的代价损失因子，确定故障扫描链的目标故障点位；修改目标故障点位，将当前周期累计的总代价损失因子与前一周期内累计比较；若总代价损失因子不小于前一周期时，确定所有故障点并结束芯片故障诊断；该方案可以节省外围硬件开销，还能精准定位每个故障扫描链上的故障点，提高诊断效率和检测精度。

主权项：1.一种基于代价损失因子的扫描链及组合逻辑故障诊断方法，其特征在于，所述方法包括：S1，通过检测待测芯片找出所有故障扫描链并判断故障类型；S2，使用与扫描链相对应的ATPG测试模式集来确定所述故障扫描链中可疑扫描单元的可疑范围；S3，依次在可疑范围内的每个候选扫描单元注入与所述故障扫描链相同类型的故障，通过比较所述候选扫描单元的模拟响应及故障电路响应计算所述故障扫描链的代价损失因子，并确定所述故障扫描链的目标故障点位；具体包括：S31，依次将选中所述候选扫描单元注入与所述故障扫描链同类型的故障，根据加载过程的故障类型改变所述候选扫描单元的可疑位数值，对所述故障扫描链进行加载；具体包括：将所述候选扫描单元对应的可疑位及其相邻位设置为加载后发生故障的输出值；通过故障注入的位置和故障被触发的概率，计算可疑范围内加载的所有所述候选扫描单元的第一逻辑概率；S32，对加载后的所述故障扫描链进行四值逻辑仿真，捕获测试响应，以及计算测试响应的逻辑概率值；具体包括：捕获四值逻辑仿真的测试响应；基于测试响应和COP算法对所述第一逻辑概率更新计算，获得所述候选扫描单元的第二逻辑概率；S33，根据卸载过程故障类型的假定输出值再次改变可疑位，并将所述故障扫描链卸载；具体包括：将所述候选扫描单元对应的可疑位及其相邻位设置为卸载后发生故障的输出值，其他正常链捕获的值不变，卸载所述故障扫描链；通过如下公式更新计算卸载后所述候选扫描单元的第三逻辑概率； 其中，是第i候选扫描单元出现“0”的逻辑概率，第i候选扫描单元出现“1”的逻辑概率，第i+1候选扫描单元出现“0”的逻辑概率，第i+1候选扫描单元出现“1”的逻辑概率，Pr是故障被触发的概率；其中的是第i候选扫描单元出现“0”的逻辑概率，第i候选扫描单元出现“1”的逻辑概率，第i+1候选扫描单元出现“0”的逻辑概率，第i+1候选扫描单元出现“1”的逻辑概率，Pr是故障被触发的概率；S34，分别根据加载和卸载过程中所述候选扫描单元的模拟响应和故障电路响应获取更新所述候选扫描单元的逻辑概率，根据逻辑概率及出现的故障位数计算所述故障扫描链的所述代价损失因子；具体包括：根据累计注入故障后被解释的故障位数与总故障位数的比值计算匹配分数Match；其中，所述匹配分数基于历史模拟响应和观察到的故障电路响应获得；根据累计错误的良好值数量与测试模式中总的良好值数量的比值计算不匹配分数Mismatch；所述不匹配分数用于描述在注入故障情况下观察到的模拟值和良好值的差异；根据所述匹配分数和不匹配分数计算一类代价损失因子CL1；公式如下：CL1＝K1*Match+K2*Mismatch其中，K1和K2为相关系数，且K1是负值，K2是正值；获取在历史周期内检测到故障时计算的A型不匹配得分UF1，以及未检测到故障时计算的B型不匹配得分UF2，根据两类不匹配得分计算二类代价损失因子CL2；公式如下：CL2＝L1*UF1+L2*UF2其中，L1和L2为正值，两类不匹配得分根据两种错配概率来进行判定；根据所述一类代价损失因子和所述二类代价损失因子的大小确定所述目标故障点；S4，将所述目标故障点位进行修改，并将当前周期累计的总代价损失因子与前一周期内累计的总代价损失因子比较；若当前周期的总代价损失因子不小于前一周期的总代价损失因子时，确定所有故障点并结束芯片故障诊断。

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