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申请/专利权人：东莞市情创电子科技有限公司

摘要：本发明公开了一种电子产品的性能试验设备及试验方法，涉及电子产品测试技术领域，包括夹持件及纳箱，在回收仓的顶端具有向两端滑出的闭合板，闭合板向两端滑出时，回收仓向上伸出；调节组件，包括沿着设备机架下方往复移动的安装板；还包括分析处理单元、控制单元及报警单元；建立电子产品的检测数据集，经过分析处理后，输出电子产品的质量评价值ZPJ，判断出当前的电子产品的质量是否合格，使回收仓处于开启状态，将完成检测后电子产品投入相应的回收仓内；在对电子产品进行检测时建立判断标准，能够综合性的对当前的电子产品是否合格形成判断，依据判断结果，对电子产品进行处理，从而提高性能试验的效率。

主权项：1.一种电子产品的性能试验设备，包括试验设备本体（10），所述试验设备本体（10）包括位于底端的设备底座（11），在设备底座（11）上方设置有设备机架（12），其特征在于：在设备底座（11）表面设置有密封性检测单元（40）及耐久性检测单元（50），分别获取密封性检测单元（40）对电子产品检测后输出密封性Qm及耐久性检测单元（50）对电子产品检测后输出的耐久性Nj，建立电子产品的检测数据集；在所述设备底座（11）表面设置有两个闭合组件（20），所述闭合组件（20）包括嵌合设置于设备底座（11）表面的容纳箱（23），在回收仓（21）的顶端具有向两端滑出的闭合板（22），闭合板（22）向两端滑出时，回收仓（21）向上伸出；在设备机架（12）的下方设置有调节组件（30），所述调节组件（30）包括沿着设备机架（12）下方往复移动的安装板（34），安装板（34）的表面通过电动伸缩杆连接有夹持件（13），还包括分析处理单元（60）、控制单元（70）及报警单元（80）；将检测数据集发送至分析处理单元（60），经过分析处理后，输出电子产品的质量评价值ZPJ；依据质量评价值ZPJ的大小，判断出当前的电子产品的质量是否合格，并分别确定合格及不合格的电子产品的位置；由控制单元（70）形成相应的控制指令，控制调节组件（30）调整夹持件（13）的位置，并使回收仓（21）处于开启状态，将完成检测后电子产品投入相应的回收仓（21）内。

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