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申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日：2023-10-20
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118191420A
主分类号：G01R25/00
分类号：G01R25/00;G01R27/28
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.02#实质审查的生效;2024.06.14#公开
摘要：本申请公开了一种二端口微波器件相移测量方法，包括以下步骤：射频信号经过功分器后分为两个通道；在通道1中，射频信号经过被测二端口微波器件后，混频输出第1路中频信号，在通道2中，射频信号经混频后输出第2路中频信号，对两路中频信号进行相位比较，获得被测二端口微波器件的相移。本申请还公开了用于实现所述方法的装置。本申请的技术方案可以验证矢量网络分析仪的相移测量结果，解决矢量网络分析仪的相移测量结果无法准确溯源及验证的问题。
主权项：1.一种二端口微波器件相移测量方法，其特征在于，包括以下步骤：射频信号经过功分器后分为两个通道；在通道1中，射频信号经过被测二端口微波器件后，混频输出第1路中频信号；在通道2中，射频信号经混频后输出第2路中频信号；对两路中频信号进行相位比较，获得被测二端口微波器件的相移。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种二端口微波器件相移测量方法和装置
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