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一种测试膜(镀)层厚度的金相试样制备方法以及测试方法 

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申请/专利权人:郑州飞机装备有限责任公司

摘要:本发明公开了一种测试膜镀层厚度的金相试样制备方法以及测试方法,通过选取随零件同槽处理的长方形条状试样,采用塑料膜将需要研磨、抛光的试样横断面进行缠绕包裹,将已缠绕好的试样置于金属夹持装置中,将试样位置调整至试样待抛光表面与金属夹持装置底面于同一平面,固定、紧固金属夹持装置后,再进行研磨、抛光至膜镀层横断面与边缘完全平整、无边缘倒角、可清晰观察膜镀层与金属基体有明显界面线的镜面,以便于显微镜下观察、测量膜层厚度。采用本发明方法制备金相试样不仅可节省时间和原料消耗,还能有效避免试样制备过程所造成的膜镀层、倒棱损伤,可准确检测厚度。

主权项:1.一种测试膜镀层厚度的金相试样制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1选取随零件同槽处理的长方形条状试样,采用塑料膜将需要研磨、抛光的试样横断面进行缠绕包裹,备用;2将已缠绕好的试样置于金属夹持装置中,将试样位置调整至试样待抛光表面与金属夹持装置底面于同一平面,固定、紧固金属夹持装置后,再进行研磨、抛光至膜镀层横断面与边缘完全平整、无边缘倒角、可清晰观察膜镀层与金属基体有明显界面线的镜面;所述研磨为采用砂纸进行研磨,试样磨过之后,砂纸上留下的整个痕迹颜色深浅要一致,宽度和试样磨面大小相同,不要有弧痕的痕迹出现,保证整个磨面的平整,减少试样倒棱现象;所述抛光时间为3min-5min。

全文数据:

权利要求:

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