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【发明授权】一种用于药液耐受性差的膜层的图形化方法_安徽熙泰智能科技有限公司_202210255014.2 

申请/专利权人:安徽熙泰智能科技有限公司

申请日:2022-03-15

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN114628620B

主分类号:H10K71/00

分类号:H10K71/00;H10K50/84;G03F7/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.14#授权;2022.07.01#实质审查的生效;2022.06.14#公开

摘要:本发明公开了一种用于药液耐受性差的膜层的图形化方法,包括薄膜封装层制备,薄膜封装层制备工艺为薄膜封装层成膜→涂胶及前烘烤→等离子体处理→曝光→灰化→刻蚀→去胶。本发明无需湿法显影即可完成图形化,进行薄膜封装层的制备,避免薄膜封装层因药液耐受性原因造成的良率损伤。

主权项:1.一种用于药液耐受性差的膜层的图形化方法,其特征在于:包括薄膜封装层制备,所述薄膜封装层制备工艺为薄膜封装层成膜→涂胶及前烘烤→等离子体处理→曝光→灰化→刻蚀→去胶;基于薄膜封装层制备的图形化方法包括如下步骤:步骤a.对完成阳极、像素定义层及蒸镀工艺的基板进行薄膜封装层成膜作业,得到第一基板(1);步骤b.对第一基板(1)进行涂胶及前烘烤作业,得到第二基板(2);步骤b的具体操作为:对完成薄膜封装层成膜的第一基板(1)进行光刻胶涂胶作业,光刻胶选用PMMA正性光刻胶;步骤c.对第二基板(2)进行等离子体处理,得到第三基板(3);步骤c的具体操作为:完成光刻胶涂胶及前烘烤的第二基板(2)进行氟基及氧基等离子体处理,采用的等离子气体为CF4、O2,CF4的流量大小为20sccm~22sccm,O2的流量大小为3sccm~5sccm,增强光刻胶对氧等离子体的耐腐蚀性;步骤d.对第三基板(3)进行曝光处理,得到第四基板(4);步骤d的具体操作为:对完成等离子体处理的第三基板(3)采用深紫外光束或电子束曝光;步骤e.对第四基板(4)进行灰化及刻蚀作业,得到第五基板(5);步骤e的具体操作为:对完成曝光后的第四基板(4)进行灰化及干法刻蚀作业,采用氧等离子方法进行灰化;灰化采用气体O2;步骤f.对第五基板(5)进行去胶作业,得到第六基板(6);即完成薄膜封装层制备。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 安徽熙泰智能科技有限公司 一种用于药液耐受性差的膜层的图形化方法

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