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一种交替式探针测试分选机 

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申请/专利权人:成都云绎智创科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种交替式探针测试分选机,包括机架、料盒组件、电动针座测试平台、电动双工位交叉互换机构和自动上下料结构,料盒组件固定安装在机架上,电动针座测试平台固定设置在机架上,电动针座测试平台上设有至少一个测试工位,电动双工位交叉互换结构固定设置在机架上,电动双工位交叉互换机构的第一端设有上料工位,第二端设置在电动针座测试平台的下方,电动双工位交叉互换机构上设有至少两个移动端,自动上下料结构固定安装在机架上,自动上下料结构上设有移动端,本申请通过自动上下料结构实现单片芯片自动上下料,通过电动双工位交叉互换机构实现了交替式并行执行自动上下料和扎针测试,提高了工作效率。

主权项:1.一种交替式探针测试分选机,其特征在于,包括:机架1;料盒组件9;料盒组件9固定安装在机架1上,料盒组件9中放置有多个芯片;电动针座测试平台;电动针座测试平台固定设置在机架1上,电动针座测试平台上设有至少一个测试工位13;电动双工位交叉互换机构3;电动双工位交叉互换机构3固定设置在机架1上,电动双工位交叉互换机构3的第一端设有上料工位12,第二端设置在电动针座测试平台的下方,电动双工位交叉互换机构3上设有至少两个移动端,电动双工位交叉互换机构3上的移动端均用于做上料工位12至测试工位13下方的往复运动;自动上下料结构2;自动上下料结构2固定安装在机架1上,自动上下料结构2上设有移动端,自动上下料结构2的移动端用于将料盒组件9中的芯片从料盒组件9中移动至上料工位12上以及将上料工位12上的芯片移动至料盒组件9中。

全文数据:

权利要求:

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