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申请/专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日：2022-12-16
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118215059A
主分类号：H04W24/02
分类号：H04W24/02;H04W24/08
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：本申请公开了一种基站测试装置，用以解决基站整体性能测试效率低的问题。本申请提供的装置包括测试容器，测试容器用于容纳待测基站；多个测试天线，多个测试天线设置在测试容器朝向待测基站的内表面；高阻抗表面阵列，高阻抗表面阵列设置在测试容器的内表面，其中，高阻抗表面阵列包括多个导电贴片，多个导电贴片分布设置于多个测试天线之间，导电贴片接地且设置有缝隙结构。
主权项：1.一种基站测试装置，其特征在于，包括：测试容器，所述测试容器用于容纳待测基站；多个测试天线，多个所述测试天线设置在所述测试容器朝向所述待测基站的内表面；高阻抗表面阵列，所述高阻抗表面阵列设置在所述测试容器的所述内表面，其中，所述高阻抗表面阵列包括多个导电贴片，多个所述导电贴片分布设置于多个所述测试天线之间，所述导电贴片接地且设置有缝隙结构。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中兴通讯股份有限公司 一种基站测试装置
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