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【发明公布】一种基于散斑图像的快速的变形场测量方法_西安理工大学_202410461202.X 

申请/专利权人:西安理工大学

申请日:2024-04-17

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN118209407A

主分类号:G01N3/06

分类号:G01N3/06;G01B11/16;G01N3/08;G01N3/20

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.18#公开

摘要:本发明涉及数字图像相关法技术领域,本发明公开了所述方法包括以下步骤:步骤S100、加载前,使用相机采集涂有随机散斑的试件表面的图像,生成参考图像,并在参考图像上的散斑表面选择被测区域,在区域内等间距分配节点阵列;步骤S200、对试件加载力,并同时采集试件表面在受力下的图像,生成变形图像;步骤S300、匹配参考图像每个节点在变形图像上的对应位置,该过程各自独立地使用本文改进的亚像素匹配方法;步骤S400、变形图像上所有节点匹配完成后,重复S200和S300这两个步骤,直到测量结束。本发明在提高曲面拟合法精度的同时,计算效率高,只需要进行两次线性计算就可以得到变形值。同时各个节点之间计算相互独立,便于并行计算,适合应用在平整的材料表面力学性能的实时在线测量上,例如单个相机配合万能试验机进行材料拉伸、压缩、弯曲等常规力学性能测试。

主权项:1.一种基于散斑图像的快速的变形场测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:步骤S100、加载前,使用相机采集涂有随机散斑的试件表面的图像,生成参考图像,并在参考图像上的散斑表面选择被测区域,在区域内等间距分配节点阵列;步骤S200、对试件加载力,并同时采集试件表面在受力下的图像,生成变形图像;步骤S300、匹配参考图像每个节点在变形图像上的对应位置,该过程各自独立地使用本文改进的亚像素匹配方法;步骤S400、变形图像上所有节点匹配完成后,重复S200和S300这两个步骤,直到测量结束。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安理工大学 一种基于散斑图像的快速的变形场测量方法

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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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