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申请/专利权人：深圳忆联信息系统有限公司
申请日：2020-11-19
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN112420117B
主分类号：G11C29/38
分类号：G11C29/38;G11C29/34
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.18#授权;2021.03.16#实质审查的生效;2021.02.26#公开
摘要：本发明涉及测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对待测试的内存进行标识，生成测试数据；对待测试的内存进行读操作，获取读数据；将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存。本发明支持在运行真实应用场景的时候，同时测试相关的SRAM，用于支持检测一些极端环境引发的问题，能够迅速排查是否是SRAM失效引起的，也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题，能够使mbist测试更健壮，实际使用灵活，能够更好地满足需求。
主权项：1.测试SRAM的方法，其特征在于，在正常功能模式下，启动bist控制器，对不工作的memory做测试，包括以下步骤：对待测试的内存进行标识，生成测试数据；对待测试的内存进行读操作，获取读数据；将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存；所述步骤将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存中，通过bist控制器将测试数据与读数据进行比较测试，若测试数据与读数据比较测试一致，则比较测试结果为成功；若测试数据与读数据比较测试不一致，则比较测试结果为失败；所述步骤将测试数据与读数据进行比较测试，获取比较测试结果，并输出比较测试结果至待测试的内存之后，还包括：对待测试的内存的比较测试结果进行保存和解析；其中，在测试模式下，比较测试结果为成功，但是在正常功能下测试失败，则说明正常功能下的测试更苛刻，故在芯片删选时，需提高内存测试的参数，以逼近真实的使用环境，删选出更可靠的芯片。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳忆联信息系统有限公司 测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质
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