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申请/专利权人：昆山丘钛微电子科技股份有限公司
摘要：本发明公开了一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质，包括：当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像；当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像；确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。本申请可以在不依赖于专用平台工具的前提下，确定测试模组是否通过光轴测试，进而不用依赖平台工具商提供的算法，也不用满足平台工具的环境要求和设备要求，大大提高了光轴测试的灵活性，简化了光轴测试难度。
主权项：1.一种多摄模组光轴测试方法，其特征在于，所述方法包括：当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取所述测试图在所述测试模组上对应的第一感光图像；当标准模组与所述测试图处于所述目标位置关系时，获取所述测试图在所述标准模组上对应的第二感光图像；确定所述第一感光图像和所述第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；根据所述第一偏移量，确定所述测试模组是否通过光轴测试；当所述测试模组未通过光轴测试时，所述方法还包括：确定所述测试模组中呈现所述第一感光图像的第一光路径，所述第一光路径与所述测试图的目标点对应；所述第一光路径是指所述目标点在所述第一感光图像中的第一点图像与所述测试模组的光心之间的路径；确定所述标准模组中呈现所述第二感光图像的第二光路径，所述第二光路径与所述目标点对应；所述第二光路径是指所述目标点在所述第二感光图像中的第二点图像与所述标准模组的光心之间的路径；确定所述第一光路径和所述第二光路径之间的第一偏转角；根据所述第一偏转角，确定所述测试模组中霍尔元器件的目标移动矢量；控制所述霍尔元器件按照所述目标移动矢量移动，以调整所述测试模组，并确定调整后的所述测试模组是否通过光轴测试。
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