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【发明公布】用于测试输入/输出电路的电路及方法_台湾积体电路制造股份有限公司_202410234818.3 

申请/专利权人:台湾积体电路制造股份有限公司

申请日:2024-03-01

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118226222A

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28

优先权:["20230303 US 63/488,276","20230711 US 18/350,512"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:一种用于测试输入输出IO电路的电路及方法,该电路包括:与IO电路的第一IO相对应并且被配置为接收至少第一输入信号或第二输入信号的多个第一输入;复用器压缩器,耦合到所述多个第一输入,并且被配置为交替地形成用于所述第一输入信号的第一测试路径和用于所述第二输入信号的第二测试路径;第一输出,被配置为通过所述第一测试路径或所述第二测试路径中的一个提供第一输出信号,作为第三输入信号的移位版本;以及第二输出,被配置为通过第一测试路径或第二测试路径中的一个提供第二输出信号,作为第一输入信号或第二输入信号的捕获版本。

主权项:1.一种用于测试输入输出电路的电路,包括:输入输出电路,可操作地耦合到功能电路,并且包括:测试电路,所述测试电路包括:多个第一输入端,对应于所述输入输出电路的第一输入输出并且被配置为接收至少第一输入信号或第二输入信号;复用器压缩器,被配置为选择所述第一输入信号或所述第二输入信号中的一个用于测试所述输入输出电路;第一输出端,当所述测试电路配置在第一模式中时,所述第一输出端被配置为基于第三输入信号提供第一输出信号;和第二输出端,当所述测试电路配置在第二模式中时,所述第二输出端被配置为基于由所述复用器压缩器选择的所述第一输入信号或所述第二输入信号来提供第二输出信号;其中,无论选择所述第一输入信号或所述第二输入信号,所述第二输入信号的逻辑状态与所述第一输出信号的逻辑状态无关。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 台湾积体电路制造股份有限公司 用于测试输入/输出电路的电路及方法

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