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申请/专利权人：中国计量科学研究院
申请日：2024-03-26
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118248373A
主分类号：G21K1/00
分类号：G21K1/00;H01J35/02
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明涉及一种偏振X射线源及偏振X射线的产生方法，偏振X射线源包括机架、X射线光管、第一衍射机构、第二衍射机构及探测器，X射线光管、第一衍射机构、第二衍射机构及探测器安装于机架上。第一衍射机构用于将X射线光管产生的连续谱无偏X射线衍射后转变成线偏振X射线，并将线偏振X射线偏转，第二衍射机构用于将偏转后的线偏振X射线再次衍射偏转被探测器介绍。上述偏振X射线源及偏振X射线的产生方法，利用晶体在45度布儒斯特角下衍射后产生线偏振X射线的原理，设计了晶体二次衍射产生线偏振X射线的光源装置，X射线经过两次偏转实现平行射出，可以方便探测器对能谱进行采集，采集能谱没有造成困难。
主权项：1.一种偏振X射线源，其特征在于，包括：机架；X射线光管，安装于所述机架上，所述X射线光管用于提供连续谱无偏X射线；第一衍射机构，安装于所述机架上，所述第一衍射机构用于将所述连续谱无偏X射线衍射后转变成线偏振X射线，并将所述线偏振X射线偏转；第二衍射机构，安装于所述机架上，与所述第一衍射机构相对设置，所述第二衍射机构用于将偏转后的所述线偏振X射线再次衍射偏转；及探测器，安装于所述机架上，所述探测器用于接收所述第二衍射机构衍射偏转后的所述线偏振X射线。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国计量科学研究院 偏振X射线源及偏振X射线的产生方法
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