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单晶-单晶原位相变原子级结构监测方法 

申请/专利权人:西湖大学

申请日:2024-05-28

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118243709A

主分类号:G01N23/20

分类号:G01N23/20

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本申请提出了光热耦合驱动单晶‑单晶原位相变原子级结构监测方法,包括通过对光敏材料单晶实施精确的温控与智能化脉冲式间歇性光照射,实现了光敏材料相变过程中单晶‑单晶的原子级结构实时监测。该方法包括选材、数据优化、结构解析、温控对中、光照处理及数据采集等步骤,特别设计的光源控制系统保障了光辐照的精确控制与样品保护,结合灵活的光源支撑装置与多波长照明能力,为光催化、光电材料等领域的研究提供了强大工具,实现了从理论到实践的飞跃,促进了材料科学的创新发展。

主权项:1.光热耦合驱动单晶-单晶原位相变原子级结构监测方法,基于单晶XRD设备,其特征在于,包括以下步骤:S00、选择合适尺度的光敏材料的单晶并装在所述单晶XRD设备的样品台上,对单晶进行衍射数据和图像数据的采集,以确定单晶的结晶质量、晶胞参数;S10、基于单晶的结晶质量、晶胞参数进行调节所述单晶XRD设备的曝光时间和数据收集策略,以实现衍射强度的优化;S20、进行衍射强度积分和衍射强度的吸收校正,并进行单晶的晶体结构解析;S30、利用所述单晶XRD设备的温控系统对单晶进行降温,并对单晶进行对中调节,再次调节所述单晶XRD设备的曝光时间和数据收集策略,以实现衍射强度的优化;S40、通过外挂光源对单晶进行设定频率的光照;S50、对单晶进行衍射数据和图像数据的采集和晶体结构解析。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西湖大学 单晶-单晶原位相变原子级结构监测方法

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