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钨(W)间隙填充的增强应力调谐及界面粘附 

申请/专利权人:应用材料公司

申请日:2022-07-12

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118251758A

主分类号:H01L21/768

分类号:H01L21/768;H01L23/532;H01L21/285

优先权:["20210726 US 63/225,623","20210916 US 17/477,413"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本文提供用于填充基板中的特征的方法及相关设备的实施例。在一些实施例中,一种填充基板中的特征的方法包括:经由物理气相沉积PVD工艺在特征中沉积氮化钨的晶种层;经由PVD工艺在特征中的氮化钨的晶种层上沉积钨的衬垫层;及随后经由化学气相沉积CVD工艺以钨整体填充来填充特征。

主权项:1.一种填充基板中的特征的方法,包含:经由物理气相沉积PVD工艺在所述特征中沉积氮化钨的晶种层;经由PVD工艺在所述特征中的氮化钨的所述晶种层上沉积钨的衬垫层;及随后经由化学气相沉积CVD工艺以钨整体填充来填充所述特征。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 应用材料公司 钨(W)间隙填充的增强应力调谐及界面粘附

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