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申请/专利权人：西北工业大学
申请日：2024-03-12
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118247165A
主分类号：G06T5/70
分类号：G06T5/70;G02B27/00;G02B1/00;G06T7/13;G06T7/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明涉及一种基于超表面的光学微、积分并行运算光学方法及系统，对输入图像的局部，进行偏振旋转改变入射线偏振光的偏振分布，使得两个正交的线偏振光分量具有分别对应两种互补的点扩散函数的强度分布，进而对输入图像同时实施对应微分和积分的卷积运算。所述光学成像系统由4f系统及放置于其频谱面的超表面构成，其振幅点扩散函数经过特殊设计，使其与输入图像卷积结果等效为对输入图像进行积分和微分运算，达到并行去噪和边缘检测的目的。本发明克服原有技术的缺点，可广泛应用在去噪和边缘检测的图像处理领域中。
主权项：1.一种基于超表面的光学微、积分并行运算光学方法，其特征在于：对输入图像的局部，进行偏振旋转改变入射线偏振光的偏振分布，使得两个正交的线偏振光分量具有分别对应两种互补的点扩散函数的强度分布，进而对输入图像同时实施对应微分和积分的卷积运算。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西北工业大学 一种基于超表面的光学微、积分并行运算光学方法及系统
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