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非侵入式射频分析物传感器中的降噪 

申请/专利权人:知识实验室股份有限公司

申请日:2022-09-07

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118251171A

主分类号:A61B5/00

分类号:A61B5/00;A61B5/145;G01N21/25;G01N22/00

优先权:["20210917 US 17/478,084"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:一种非侵入式分析物传感器,包括设置在接收和或发射部件上的一个或多个降噪部件,以降低外来射频噪声。降噪部件可以设置在连接接收天线和接收电路的电导体的外部,以抑制在电导体外部产生的外来射频噪声。降噪部件可以是实现这种射频噪声抑制的任何类型的降噪设备。在一个实施例中,降噪部件可以是扼流圈。

主权项:1.一种非侵入式分析物传感器系统,包括:第一天线,被配置为发射射频电磁波,所述第一天线被定位和布置成将射频发射信号发射到包含至少一种分析物的目标中;第二天线,被配置为检测射频电磁波,所述第二天线被定位和布置成检测由所述第一天线将所述射频发射信号发射到包含所述至少一种分析物的目标中而产生的射频响应;发射电路,能电连接到所述第一天线,所述发射电路被配置为生成将由所述第一天线发射的所述射频发射信号;发射电导体,将所述发射电路与所述第一天线电连接;接收电路,能电连接到所述第二天线,所述接收电路被配置为接收由所述第二天线检测到的所述射频响应;接收电导体,将所述接收电路与所述第二天线电连接;以及在所述接收电路和所述第二天线之间的所述接收电导体上和或在所述发射电路和所述第一天线之间的所述发射电导体上的至少一个降噪器。

全文数据:

权利要求:

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