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申请/专利权人：中国科学院力学研究所
摘要：本发明公开了一种平板边界层密度脉动测量方法，其包括以下步骤，将激光器单向发射的一束平行的相干光束，通过分束器将光束分成多束相干的扇形光束A；将每束所述扇形光束A分离成两束光束B；将发散的各所述光束B重新转换为平行的光束后，并向平板边界层内的目标待测区域聚焦；并启动风洞，使得聚焦的光束穿过待测区域；将聚焦后的各所述光束B重新转换为相互平行的光束B；将由每束所述扇形光束A分离成的两束所述光束B重新聚焦合并为一束相干光束C；将每束所述相干光束C经过过滤后，分别由对应的光电探测器转换为电压信号，并依据电压信号反推出平板边界层内密度脉动信息；可以同时测量平板边界层内多个测点的密度脉动信息。
主权项：1.一种平板边界层密度脉动测量方法，其特征在于，包括以下步骤步骤100、将激光器单向发射的一束平行的相干光束，并进行光束扩展分离以分成多束相干的扇形光束A；步骤200、将每束所述扇形光束A分离成两束光束B；步骤300、将发散的各所述光束B重新转换为平行的光束B后，并向平板边界层内的待测区域聚焦；并启动风洞，使得聚焦的光束B穿过待测区域；步骤400、将聚焦后的各所述光束B重新转换为相互平行的光束B；步骤500、将由每束所述扇形光束A分离成的两束所述光束B重新聚焦合并为一束相干光束C；步骤600、将每束所述相干光束C经过过滤后，分别由对应的光电探测器转换为电压信号，并依据电压信号反推出平板边界层内密度脉动信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院力学研究所 一种平板边界层密度脉动测量方法
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