申请/专利权人：杭州电子科技大学

申请日：2021-12-24

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN114441559B

主分类号：G01N23/00

分类号：G01N23/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.25#授权;2022.05.24#实质审查的生效;2022.05.06#公开

摘要：本发明公开了一种PCB板AOI中阳面错点的快速检测方法，包括以下步骤：S1，获取PCB板图形中的所有线段和圆元素；S2，用一种判断元素对应的膨胀轮廓和收缩轮廓是否被切割的方法对元素进行粗筛，判断元素是否需要进一步检测；S3，根据元素膨胀轮廓和收缩轮廓的切割情况，将图像上对应的元素点集利用射线法进行错点精筛。本发明用一种计算元素对的膨胀轮廓和最小容许范围的差值的方法将元素对进行粗筛，进而对疑似点集进行精筛，提高了整板检测的速度。

主权项：1.一种PCB板AOI中阳面错点的快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，获取PCB板图形中的所有线段和圆元素；S2，用一种判断元素对应的膨胀轮廓和收缩轮廓是否被切割的方法对元素进行粗筛，判断元素是否需要进一步检测；S3，根据元素膨胀轮廓和收缩轮廓的切割情况，将图像上对应的元素点集利用射线法进行错点精筛；所述S1具体包括：解析PCB板图形资料得到所有线段和圆元素，筛选出线宽小于预设范围的线段元素和半径小于预设范围的圆元素；所述S2具体包括以下步骤：S21，根据膨胀系数计算元素的膨胀轮廓和收缩轮廓；S22，判断元素的膨胀轮廓和收缩轮廓的四面切割情况，是否四面均被切割；具体为，将切割框与待判轮廓求交，若切割框被待判轮廓包含，则待判轮廓四面均被切割；S23，是，则不需要进一步检测；S24，否，则根据切割方向进行进一步检测；所述S3具体包括以下步骤：S31，以8个点为一个步长进行跳跃判断，根据元素点集对应的膨胀轮廓和收缩轮廓，进行错点判断；S32，根据轮廓切割情况决定射线方向，射线与轮廓的交点数是否为奇数个；其中，根据轮廓切割情况决定射线方向，默认向右射出射线，若轮廓右面被切割，则向下射出射线，若轮廓下面被切割，则向左射出射线，以此类推；若轮廓存在多个面被切割的情况，以右、下、左、上的顺序找到第一个没被切割的面射出射线；S33，是，则认为点在轮廓内；S34，否，即射线与轮廓的交点数为偶数个，则认为点在轮廓外；S35，将位于膨胀轮廓外或收缩轮廓内的点判定为错点；当前后两段线段的交点与射线相交于同一个点，且两段线段均位于射线的上方或者下方，即两段线段位于射线同侧，此时这个交点不计数；当射线与组成轮廓的线段共线时，射线转换任意角度重新进行交点判断；其中，S32、S33和S34中的轮廓包括膨胀轮廓和收缩轮廓。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州电子科技大学 PCB板AOI中阳面错点的快速检测方法

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