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一种应用于高低温传函仪的红外中继系统 

申请/专利权人:湖北久之洋红外系统股份有限公司

申请日:2022-12-02

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN115931308B

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2023.04.25#实质审查的生效;2023.04.07#公开

摘要:本发明公开了一种应用于高低温传函仪的红外中继系统,物面与像面分别对应被测镜头焦面与点源探测器靶面,实现两者共轭,采用二次成像的结构形式,将被测镜头的焦面共轭成像至温箱外中间像面,刀口狭缝放置于中间像面位置,实现刀口狭缝温箱外扫描,并再共轭至点源探测器靶面,实现信号传递,便于信号MTF解算,被测镜头焦面经过温箱保护窗口和前组成像至刀口狭缝处,再经过后组成像系统共轭成像至点源探测器靶面。本发明中继系统放大倍率为1×,物方数值孔径为0.25,工作波长3μm~5μm,刀口狭缝处中间像点和像面处的传函在100lpmm处均接近衍射极限,达到0.1以上。

主权项:1.一种应用于高低温传函仪的红外中继系统,其特征在于,包括:前组成像系统、温箱保护窗口、刀口或狭缝和后组成像系统;所述前组成像系统包括第一前组透镜、第二前组透镜、第三前组透镜和第四前组透镜;所述后组成像系统包括第一后组透镜、第二后组透镜、第三后组透镜和第四后组透镜;所述温箱保护窗口包括第一温箱保护窗口和第二温箱保护窗口;物方成像光束依次经过第一温箱保护窗口、第二温箱保护窗口、第一前组透镜、第二前组透镜、第三前组透镜和第四前组透镜后一次成像,刀口或狭缝靠近物方的前表面放置在一次像点处,再经过第一后组透镜、第二后组透镜、第三后组透镜和第四后组透镜二次成像在点源探测器靶面上;光线入射方向为物方,即为被测镜头的焦面,光线出射方向为像方,即为点源探测器靶面,第一温箱保护窗口和第二温箱保护窗口均是一片氟化钙平面窗口,第一前组透镜是一片凸面向像方的硅正透镜,第二前组透镜是一片凸面向物方的弯月形锗负透镜,第三前组透镜是一片凸面向物方的弯月形硅正透镜,第四前组透镜是一片凸面向像方的弯月形锗负透镜,刀口或狭缝均是一片蓝宝石平面玻璃,第一后组透镜是一片凸面向像方的弯月形硅正透镜,第二后组透镜是一片凸面向像方的弯月形锗负透镜,第三后组透镜是一片凸面向物方的弯月形硅正透镜,第四后组透镜是一片双凸锗负透镜。

全文数据:

权利要求:

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