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一种使用X射线测量锂电池负极极片涂布面密度的方法 

申请/专利权人:开封市测控技术有限公司;开封市金石科技有限公司

申请日:2023-12-22

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118258717A

主分类号:G01N9/24

分类号:G01N9/24

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明公开了一种使用X射线测量锂电池负极极片涂布面密度的方法,包括以下步骤:涂布线接收上游输送来的铜箔基材;第一X射线面密度测量仪检测铜箔基材对X射线的吸收值;涂布装置持续对经过的铜箔基材进行负极浆料的涂布;第二X射线面密度测量仪检测已完成负极浆料涂布的极片对X射线的吸收值;做相关性处理计算得到石墨涂层对X射线的吸收值,从而得到石墨涂层的面密度。本发明在实施时采用双机测量的方法,第一X射线面密度测量仪检测铜箔基材对X射线的吸收值,第二X射线面密度测量仪检测已完成负极浆料涂布的极片对X射线的吸收值,同时通过提高两台X射线面密度测量仪同轨迹扫描的准确性,进而提高负极极片测量精度和可靠性。

主权项:1.一种使用X射线测量锂电池负极极片涂布面密度的方法,应用于负极极片涂布系统,所述负极极片涂布系统包括涂布线以及涂布线上设置的涂布装置1,所述涂布线包括位于负极极片上方的第一托辊2和位于负极极片下方的第二托辊3,其特征在于,所述涂布线上涂布装置1前方设置有第一X射线面密度测量仪4,涂布线上干燥装置2后方设置有第二X射线面密度测量仪5,其中一个所述第一托辊2上设置有旋转编码器6;还包括以下步骤:步骤一:涂布线接收上游输送来的铜箔基材;步骤二:所述第一X射线面密度测量仪4检测铜箔基材透射前的X射线的强度和铜箔基材透射后的X射线的强度,从而获得铜箔基材对X射线的吸收值;步骤三:所述涂布装置1持续对经过的铜箔基材进行负极浆料的涂布;步骤四:所述第二X射线面密度测量仪5检测负极极片涂布后透射前的X射线的强度和负极极片涂布后透射后的X射线的强度,从而获得已完成负极浆料涂布的极片对X射线的吸收值;步骤五:基于上述步骤二中铜箔基材对X射线的吸收值和步骤四中已完成负极浆料涂布的极片对X射线的吸收值,做相关性处理计算得到石墨涂层对X射线的吸收值,从而得到石墨涂层的面密度;其中,所述第一X射线面密度测量仪4和第二X射线面密度测量仪5均包括扫描架7、扫描架7上设置的X射线探测装置以及用于驱动X射线探测装置在扫描架7上往复运动的驱动装置;所述X射线探测装置包括呈直线对称设置在扫描架7上的X射线发生器8和X射线探测器9;所述第一X射线面密度测量仪4的X射线探测装置的扫描轨迹和第二X射线面密度测量仪5的X射线探测装置的扫描轨迹位于同一扫描曲线上。

全文数据:

权利要求:

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