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申请/专利权人：中国科学院大学
申请日：2024-04-12
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118258767A
主分类号：G01N21/17
分类号：G01N21/17;G01N21/01;G01N21/41
优先权：["20240312 CN 2024102787532"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明涉及一种材料声学性能的高通量表征装置及方法，属于材料检测和高通量表征领域，解决了现有装置空间分辨率低、无法满足高通量表征需求的问题。包括：声波控制组件，用于产生目标频率的声波使样品在其作用下振动；激光探测组件，包括激光器和光电探测器，激光器用于向样品发射激光，光电探测器用于接收样品的反射激光；信号处理与采集组件，用于处理光电探测器输出的电信号，以及采集测量数据，传输至计算机；计算机，基于测量数据计算样品的声学性能；介质声学测量环境组件，用于为样品营造特定的流体环境。本装置具有高空间分辨能力，能以高通量方式对毫米、厘米级的样品进行声学性能检测，特别填补了现有技术在低频声学性能表征上的空缺。
主权项：1.一种材料声学性能的高通量表征装置，其特征在于，包括：声波控制组件、激光探测组件、信号处理与采集组件、介质声学测量环境组件以及计算机；其中，声波控制组件，用于产生目标频率的声波，使样品阵列在声波的作用下产生振动；其中，所述样品阵列由若干样品有序排布于基板上而成，其中每一样品的组分和或结构与其他样品不同；激光探测组件，包括激光器和光电探测器；其中，激光器用于向样品表面发射激光，光电探测器用于接收样品表面的反射激光，产生表示光斑位移情况的电信号；所述光斑的位移表征样品表面的振动情况；信号处理与采集组件，用于处理光电探测器输出的电信号，以及采集和储存测量数据，传输至计算机；计算机，用于根据所述测量数据计算所测样品的声学性能；介质声学测量环境组件，用于为样品营造特定的流体环境，实现样品在目标介质中的声学性能测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院大学 一种材料声学性能的高通量表征装置及方法
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