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申请/专利权人：中国计量科学研究院
摘要：本发明涉及光学领域，提供一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置，方法包括：将物体静止悬浮设置；将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于物体的表面；测量物体在光束作用下的加速度；根据物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力，确定光束的光辐射功率；或，根据光束的光辐射功率、物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力，确定物体的质量。本发明提供的方法，可以根据已知参数测量特定光束的光辐射功率或特定物体的质量，而且通过合理的数学转换，可以实现特定光束的光辐射功率与特定物体的质量的双向测量，即在同一测量中既可以测量光辐射功率也可以测量物体质量，提高了测量的灵活性和多功能性。
主权项：1.一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法，其特征在于，包括：将物体静止悬浮设置；所述物体具有至少一侧光滑平整的表面且无明显光散射特性；将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于所述物体的所述表面；测量所述物体在所述光束作用下的加速度；根据所述物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力，确定所述光束的光辐射功率；或，根据所述光束的光辐射功率、所述物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力，确定所述物体的质量；所述测量方法的根据为a＝[P1-τ+rc-fv]m；其中，a为所述物体的加速度，P为所述光束的光辐射功率，τ为所述物体的透射比，r为所述物体的反射比，c为光速，fv为所述物体在移动速度为v时受到的阻力，m为所述物体的质量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国计量科学研究院 利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置
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