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加工程序修正用参数的选择方法以及选择装置、机床的控制装置 

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申请/专利权人:大隈株式会社

摘要:本发明提供加工程序修正用参数的选择方法以及选择装置、机床的控制装置。当在S1中输入加工程序时,在S2中,计算各个指令点的评价值e,在S3中,在各个指令点中,对特定点的评价值e与周边点的评价值e进行比较,计算各个指令点的异常率v,在S4中,计算所输入的加工程序整体的综合异常率v。在S5中,判断是否变更参数,如果有剩余的参数,则重复S2~S4的步骤,按各参数计算加工程序整体的综合异常率v。如果在S5中确认到没有剩余的参数,则在S6中,比较每个参数的综合异常率v,计算综合异常率v最小的参数,在S7中,输出计算出的参数。

主权项:1.一种加工程序修正用参数的选择方法,其是从预先设定的加工程序修正用的多个参数中选择一个参数的方法,其特征在于,按各个所述参数分别执行如下步骤:评价值计算步骤,在加工程序的多个指令点中,分别计算关于呈现使加工面产生不良的特征的点的评价值;异常率计算步骤,在各个所述指令点中,在与至少一个周边点之间比较彼此的评价值,计算针对所述周边点的异常率,其中,所述至少一个周边点是位于各个所述指令点的周边的所述指令点;以及综合异常率计算步骤,根据各个所述指令点的所述异常率,计算所述加工程序整体的综合异常率,之后,执行参数计算步骤,在该参数计算步骤中,将所述综合异常率最小的所述参数计算为所述一个参数。

全文数据:

权利要求:

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