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申请/专利权人:胜科纳米(苏州)股份有限公司
摘要:本发明提供了一种SCM测试样品及其制备方法和应用,所述制备方法包括以下步骤:1将待测样品的待测位置研磨后,进行激光表面改性处理;2对激光表面改性处理得到的待测样品进行表面氧化处理后,得到SCM测试样品。本发明通过激光表面改性处理,可以减少由于研磨处理造成的样品表面颗粒和缺陷,大幅度提高SCM的信号灵敏度以及测试质量。
主权项:1.一种SCM测试样品的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:1将待测样品的待测位置研磨后,进行激光表面改性处理;2对激光表面改性处理得到的待测样品进行表面氧化处理后,得到SCM待测样品。
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百度查询: 胜科纳米(苏州)股份有限公司 一种SCM测试样品及其制备方法和应用
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