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一种Typec接头插拔测试机构 

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申请/专利权人:深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司

摘要:本发明公开了一种Typec接头插拔测试机构,包括:机架;第一测试装置,安装于机架上表面,第一测试装置上设有第二对扣连接器,第二对扣连接器与第一对扣连接器对扣连接;第二测试装置,安装于机架上表面,第二测试装置上设有能与Typec接头相插连接的Typec插口,第一测试装置与第二测试装置电连接。本发明提供的Typec接头插拔测试机构,通过采用Typec接头与Typec插口相插连接的形式以及第一对扣连接器与第二对扣连接器公母头对扣的形式对产品各条线路进行测试,连接更可靠,完全脱离了现有技术中的探针植针导通线路的测试方式,增加了测试的稳定性,操作也更加简单。

主权项:1.一种Typec接头插拔测试机构,用于测试具有Typec接头110和第一对扣连接器120的Typec模组100,其特征在于,包括:机架200;第一测试装置300,安装于所述机架200上表面,所述第一测试装置300上设有第二对扣连接器310,所述第二对扣连接器310与所述第一对扣连接器120对扣连接;第二测试装置400,安装于所述机架200上表面,所述第二测试装置400上设有能与所述Typec接头110相插连接的Typec插口410,所述第一测试装置300与所述第二测试装置400电连接;所述第一测试装置300包括朝向所述第二测试装置400的延伸部320,所述第二对扣连接器310设置在所述延伸部320上,所述机架200上表面安装有第一定位块210,所述第一定位块210上设有供所述延伸部320卡入的第一凹槽211;所述第一定位块210上设有第二定位块220,所述第二定位块220上设有与所述第一对扣连接器120外形相匹配的第二凹槽221,以承托所述第一对扣连接器120,所述第二凹槽221底面设有定位孔222,所述第二对扣连接器310能穿过所述定位孔222与所述第一对扣连接器120对扣连接;所述机架200内设有升降装置201,位于所述第一定位块210下方,所述升降装置201包括顶杆,所述第一定位块210上设有能供所述顶杆穿过的通孔,所述顶杆穿过所述第一定位块210并与所述第二定位块220螺纹连接,所述顶杆能将所述第二定位块220顶起以分离所述第一对扣连接器120和所述第二对扣连接器310;所述第二定位块220上表面活动安装有连接器压块223,所述连接器压块223能活动至所述第二凹槽221的上方,以对承托于所述第二凹槽221内的所述第一对扣连接器120进行高度方向上的限位,所述机架200上表面设有压夹机构230,所述压夹机构230能活动至压紧所述连接器压块223上表面。

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