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申请/专利权人：武汉中科创新技术股份有限公司
摘要：本发明涉及一种板材相控阵横波探伤检测方法、系统、电子设备及介质，其方法包括：获取相控阵横波在目标板材中的声速、相控阵探头晶片的频率、相控阵探头晶片短边的长度、延迟块的厚度；根据目标板材中待检测的竖通孔直径的大小确定横波波长的最大值；根据横波波长的最大值和横波在目标板材中的声速确定探头的频率范围；根据相控阵横波在目标板材中的声速、相控阵探头的频率和相控阵探头晶片短边的长度确定探头的单个晶片半声束扩散角度；根据延迟块的厚度、单个晶片半声束扩散角度确定探头孔径主动轴尺寸；基于探头孔径主动轴尺寸、探头频率对目标板材中的竖通孔进行检测。本发明的相控阵横波能检测到板材中1.6mm的竖通孔缺陷。
主权项：1.一种板材相控阵横波探伤检测方法，其特征在于，包括：获取相控阵横波在目标板材中的声速、相控阵探头晶片的频率、相控阵探头晶片短边的长度、延迟块的厚度；根据目标板材中待检测的竖通孔直径的大小确定所述横波波长的最大值；根据所述横波波长的最大值和所述横波在所述目标板材中的声速确定所述探头的频率范围；根据所述相控阵横波在目标板材中的声速、所述相控阵探头的频率和所述相控阵探头晶片短边的长度确定所述探头的单个晶片半声束扩散角度；根据所述延迟块的厚度、所述单个晶片半声束扩散角度确定探头孔径主动轴尺寸；基于所述探头孔径主动轴尺寸、所述探头频率对所述目标板材中的竖通孔进行检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉中科创新技术股份有限公司 板材相控阵横波探伤检测方法、系统、电子设备及介质
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