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一种基于截面信息的药片磕边检测方法和系统 

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申请/专利权人:平方和(北京)科技有限公司

摘要:本发明涉及一种基于截面信息的药片磕边检测方法和系统,通过获取药片的二维图像以及二维图像各区域的深度信息;提取二维图像中药片边缘的待检测环形区域,并将待检测环形区域的深度信息展开为一维截面信息;基于一维截面信息对药片进行缺陷检测。本申请提取药片边缘的待检测环形区域,然后将待检测环形区域的深度信息展开为一维截面信息,可快速检测边沿缺陷所在位置、缺陷大小以及深度,本申请可以有效对位于表面到侧面过渡区难以检测的缺陷进行检测,提高了片剂生产流程的产品质量。

主权项:1.一种基于截面信息的药片磕边检测方法,其特征在于,包括步骤:获取药片的二维图像以及二维图像各区域的深度信息;基于所述深度信息提取所述二维图像中药片边缘的待检测环形区域,并将所述待检测环形区域的深度信息展开为一维截面信息;基于所述一维截面信息对药片进行缺陷检测。

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权利要求:

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