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申请/专利权人：华中科技大学
摘要：本发明公开了一种等离子体图像‑光谱融合校正LIBS光谱波动性的方法及应用，属于LIBS物质成分检测领域。包括：1同时获取样品的LIBS光谱与等离子体图像；2计算理想等离子体状态下的标准光谱强度；3从LIBS光谱中提取实际光谱强度，并计算其与标准光谱强度的偏差；4建立光谱辐射模型，得到光谱偏差的影响因素；5从LIBS光谱和等离子体图像中提取与光谱偏差的影响因素对应的特征并估计光谱偏差；6根据估算的光谱偏差，校正实际光谱强度；7将校正后的光谱强度进行归一化处理；8基于归一化光谱强度与样品中元素含量建立定标曲线；9基于上述步骤校正未知样品的光谱，并预测其元素含量。本方法具有更高的稳定性，能提高定量分析结果精度。
主权项：1.一种等离子体图像-光谱融合校正LIBS光谱波动性的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、同时获取样品的LIBS光谱与样品的等离子体图像；步骤S2、计算理想等离子体状态下所述LIBS光谱中待分析元素谱线的标准光谱强度Iideal；步骤S3、从所述LIBS光谱中提取待分析元素谱线的实际光谱强度Ireal，并计算所述实际光谱强度Ireal与所述标准光谱强度Iideal之间的偏差e；步骤S4、建立光谱辐射模型，得到光谱偏差的影响因素；并从所述LIBS光谱和所述等离子体图像中提取与所述光谱偏差的影响因素对应的特征，根据所述特征以及所述偏差e建立预测模型，估计待分析元素的光谱偏差步骤S5、用估计的光谱偏差校正所述实际光谱强度Ireal，得到校正后的实际光谱强度I'；根据LIBS光谱线积分强度表达式，计算所述标准光谱强度Iideal，其表达式为： 其中，式中，F0、C0、l0、T0、UT0和ne0分别为理想等离子体状态下的仪器与环境因子、待分析元素的含量、辐射路径长度、等离子体温度、配分函数和电子数密度，gi、Aij和Ei分别为简并度、跃迁几率和上能级能量，k为玻尔兹曼常数，me为电子质量，h为普朗克常数，Eion为待分析元素中性原子的电离能，ΔEion为电离电位下降因子。
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权利要求：
百度查询： 华中科技大学 等离子体图像-光谱融合校正LIBS光谱波动性的方法及应用
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