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申请/专利权人：上海银策信息技术有限公司
摘要：本实用新型涉及电气元件检测技术领域，且公开了一种电气元件检测组件，包括检测仪以及连接在检测仪上的线缆，所述线缆上连接有探针；所述线缆远离检测仪的一端套装有套轴，所述套轴内开设有过风腔，且探针穿过过风腔，所述套轴上连接有套设在探针上的伸缩防护罩，所述伸缩防护罩远离套轴的一端安装有套设在探针上的通风盘，所述通风盘上安装有用于探针刮污的刮污件。本实用新型提出了一种电气元件检测组件，解决了探针容易受到灰尘或污垢的影响问题。
主权项：1.一种电气元件检测组件，包括检测仪1以及连接在检测仪1上的线缆2，所述线缆2上连接有探针3，其特征在于：所述线缆2远离检测仪1的一端套装有套轴4，所述套轴4内开设有过风腔，且探针3穿过过风腔，所述套轴4上连接有套设在探针3上的伸缩防护罩5，所述伸缩防护罩5远离套轴4的一端安装有套设在探针3上的通风盘6，所述通风盘6上安装有用于探针3刮污的刮污件7。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海银策信息技术有限公司 一种电气元件检测组件
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