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大斜视星载SAR二维分辨率和参数计算方法及系统 

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申请/专利权人:上海卫星工程研究所

摘要:本发明提供了一种大斜视星载SAR二维分辨率和参数计算方法及系统,包括:根据星地斜视几何关系计算得到最优地面直角坐标系下的雷达位置和所需分析的目标点坐标;计算最优地面直角坐标系下,目标点聚焦后的图像二维波数谱支撑区范围;计算目标点波数谱支撑区范围的二维谱宽度;根据傅里叶变换理论,通过二维频谱宽度计算得到目标点的二维分辨率;根据二维分辨率与合成孔径时间、信号带宽之间的耦合关系,得到合成孔径时间和信号带宽的设计值。本发明通过布置最优地面直角坐标系,可得到目标点的二维波数谱支撑区范围,通过直接计算二维谱宽,精确得到目标点的二维分辨率,能够解决现有方法因大斜视下二维分辨率耦合所引起的计算精度下降的问题。

主权项:1.一种大斜视星载SAR二维分辨率和参数计算方法,其特征在于,包括:步骤S1:根据星地斜视几何关系计算得到最优地面直角坐标系下的雷达位置和所需分析的目标点坐标;步骤S2:计算最优地面直角坐标系下,目标点聚焦后的图像二维波数谱支撑区范围;步骤S3:计算目标点波数谱支撑区范围的二维谱宽度;步骤S4:根据傅里叶变换理论,通过二维频谱宽度计算得到目标点的二维分辨率;步骤S5:根据二维分辨率与合成孔径时间、信号带宽之间的耦合关系,得到合成孔径时间和信号带宽的设计值。

全文数据:

权利要求:

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