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申请/专利权人：华中科技大学
摘要：本发明属于材料变形测试相关技术领域，并公开了一种基于荧光散斑全场三维变形场与温度场实时同步测量的方法及系统。该方法包括下列步骤：S1标定灰度比和温度的曲线关系；S2获得各个角度下参考图像中的各待测点在所有时刻变形图像中的匹配点以及同一时刻不同角度的图像中各点的匹配点；S3计算各个时刻待测样品表面的三维变形场和温度场。本发明还公开了上述方法的系统。通过本发明，实现构件表面变形场与温度场的同步三维测量，测温范围更广，成本较低，操作简便。
主权项：1.一种基于荧光散斑全场三维变形场与温度场实时同步测量的方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：S1采集不同角度下喷涂有荧光散斑的标定块表面的图像，计算标定块表面各荧光像素点在不同角度的图像中的灰度比并测量标定块表面各荧光像素点的温度，以此获得标定块表面所有荧光像素点各自对应的温度和灰度比，即获得灰度比和温度的曲线关系；S2改变表面喷涂有荧光散斑的待测样品的温度，采集在不同时刻不同角度下待测样品表面的图像，初始时刻采集的图像作为参考图像，分别将不同时刻的图像和参考图像之间以及同一时刻不同角度的图像之间进行特征匹配，获得所有时刻各个角度下的图像中的各点在参考图像中的匹配点以及同一时刻不同角度的图像相互之间各图像中点的匹配点；S3计算在任意时刻下各个角度图像中的点相对于参考图像中的匹配点的三维坐标变化，该坐标变化为任意时刻参考图像中匹配点的三维位移，以此方式获得各个时刻所有参考图像中所有匹配点的三维位移，即获得各个时刻待测样品表面的三维变形场；计算待测样品表面荧光像素点在同一时刻下在不同角度的图像中的匹配点的灰度比，结合所述灰度比和温度的曲线关系获得同一时刻待测样品表面各个荧光像素点的温度，通过插值的方法获得待测样品表面非荧光像素点的温度，以此方式获得各个时刻待测样品表面所有点的温度，即获得各个时刻待测样品表面的温度场。
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百度查询： 华中科技大学 一种基于荧光散斑全场三维变形场与温度场实时同步测量的方法及系统
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