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申请/专利权人:三赢科技(深圳)有限公司
摘要:本申请提供一种微粒检测方法、系统、电子设备及计算机存储介质。微粒检测方法包括:获取检测图像;识别所述检测图像中微粒的成像,得到所述微粒的阴影区域;根据所述阴影区域中各像素点的影响程度,确定所述微粒的最大影响程度;根据所述微粒的所述最大影响程度,得到所述微粒的尺寸信息。通过识别出检测图像中由微粒投影产生的阴影区域,然后根据阴影区域中各像素点的影响程度,确定微粒的最大影响程度,再利用微粒的最大影响程度计算得到微粒的尺寸信息。由于不同尺寸大小的微粒所对应的最大影响程度之间差异较大,更易于对不同大小的微粒进行区分,从而可以更加准确地计算出微粒的尺寸大小,提高微粒检测的准确性。
主权项:1.一种微粒检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取检测图像;识别所述检测图像中微粒的成像,得到所述微粒的阴影区域;根据所述阴影区域中各像素点的影响程度,确定所述微粒的最大影响程度;根据所述微粒的所述最大影响程度,得到所述微粒的尺寸信息。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 三赢科技(深圳)有限公司 微粒检测方法、系统、电子设备及计算机存储介质
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