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申请/专利权人：西门子医疗股份公司
摘要：本发明涉及一种计算机实现的用于估计电子发射器的构件品质的方法，所述方法包括以下步骤：‑接收电子发射器图像数据集，其中电子发射器图像数据集的图像信息至少部分地描绘插入到阴极头中的电子发射器；‑从存储单元接收电子发射器几何模型；‑将接收到的电子发射器几何模型变换到电子发射器图像数据集的图像信息，其中计算电子发射器的电子发射器几何信息作为变换的输出参数；‑利用电子发射器几何信息求取所插入的电子发射器与至少另一个电子发射器的相似度；‑根据所求取的与至少另一个电子发射器的相似度来估计构件品质。
主权项：1.一种计算机实现的用于估计电子发射器的构件品质的方法，所述电子发射器是阴极装置的一部分，其中所述阴极装置包括阴极头和插入到所述阴极头中的所述电子发射器，其中所述电子发射器尤其是面发射器，所述方法具有以下步骤：-接收电子发射器图像数据集，其中所述电子发射器图像数据集的图像信息至少部分地描绘插入到所述阴极头中的所述电子发射器，-从存储单元接收电子发射器几何模型，-将接收到的所述电子发射器几何模型变换到所述电子发射器图像数据集的图像信息，其中计算所述电子发射器的电子发射器几何信息作为所述变换的输出参数，-利用所述电子发射器几何信息求取所插入的所述电子发射器与至少另一个电子发射器的相似度，-根据所求取的与所述至少另一个电子发射器的相似度来估计所述构件品质。
全文数据：
权利要求：
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