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一种光场3D显示体素尺寸测量装置及方法 

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申请/专利权人:北京航空航天大学

摘要:本发明提出了一种光场3D显示体素尺寸测量装置及方法。所述光场3D显示体素尺寸测量装置包括测量光源、掩膜板和成像光度计。所述光场3D显示体素尺寸测量方法包括以下步骤:生成点光源,由测量光源和掩膜板匹配生成;利用测量光源和成像光度计,测量光场3D显示屏中光学成像系统的点扩散函数;利用点扩散函数的可卷积性,测量光场3D显示屏的体素尺寸。所提出的光场3D显示体素尺寸测量装置及方法可实现对光场3D显示体素尺寸的直接精确测量。

主权项:1.一种光场3D显示体素尺寸测量装置,其特征在于,所述装置包含测量光源、掩膜板和成像光度计;所述测量光源,用于生成亮度均匀的点光源;所述掩膜板,用于生成发散角为θ的点光源,并遮挡杂散光;所述成像光度计,用于获取点光源经待测光场3D显示屏中光学成像系统的点扩散函数。

全文数据:

权利要求:

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