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申请/专利权人：华东师范大学

摘要：本发明提供一种干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量预估方法，其特点在于通过使用一组代表性样品率定得出微量样品与足量样品平均粒径线性关系的90%置信区间上限用于偏保守估计样品平均粒径量值，求取每一代表性样品平均粒径相对误差最终收敛至±5%时的临界质量，从而获得最小有效取样量的偏保守估算经验公式，实现基于微量样品快速测量结果保守估算出最小有效取样量，进而基于估算结果配制样品并采用干式动态图像法开展粒度测量实验。本发明与现有技术相比具有保证精度的前提下显著提高干式动态图像法测量沉积物颗粒粒度的作业效率，方法简便，使用效果好，具有广泛且良好的应用前景。

主权项：1.一种干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量预估方法，其特征在于，该预估方法具体包括下述步骤：1使用不同粒径的代表性沉积物样品基于干式动态图像法测量装置测量其粒度特征，率定获得最小有效取样量估算经验公式；2取微量未知待测样品基于干式动态图像法快速测量其粒度特征，估算其最小有效取样量；3称取最小有效取样量的未知待测样品，基于干式动态图像法正式测量其粒度特征；所述步骤1的率定获得最小有效取样量估算经验公式具体包括下述步骤：步骤101：制备n个由细及粗的α克代表性沉积物样品干样作为标准样品，各样品标记为S1,S2,…,Sn，其中，α的取值范围为30～150g；步骤102：将第ii＝1,2,…,n个标准样品Si随机取βg制备子样Si,1，基于干式动态图像法粒度仪器测量该子样的粒度特征，得微量子样Si,1的平均粒径快速测试值Dmi,1，即β克微量子样平均粒径Dmi,1，所述β克微量子样的取值范围为2～5g；步骤103：从步骤102的Si标准样品中随机取样γ克混合至子样Si,1，得Si标准样品的第j个子样Si,j，基于干式动态图像法粒度仪测量该子样的粒度特征，得Si,j子样的平均粒径Dmi,j，即γ克微量子样平均粒径Dmi,j，所述γ克微量子样的取值范围为5～10g；步骤104：重复步骤103，直至Si标准样品全部添加完，得Si标准样品质量由少到多的m个子样的平均粒径序列[Dmi,1,Dmi,2,…,Dmi,m]，以及对应子样质量序列[β,β+γ,β+2γ,…,α]；步骤105：计算Si标准样品每一子样相对于全样平均粒径测量值的相对误差Erri,j，得Si标准样品质量由少到多的m个子样的平均粒径误差序列[Erri,1,Erri,2,…,Erri,m]，对应子样质量序列[β,β+γ,β+2γ,…,α]，所述相对误差Erri,j由下述a式计算： 步骤106：根据步骤105所得子样平均粒径误差序列[Erri,1,Erri,2,…,Erri,m]与对应的子样质量序列[β,β+γ,β+2γ,…,α]，插值计算平均粒径误差末次收敛至±5％时的样品临界质量，作为Si标准样品的最小有效取样量Wcri＝1,2,…,n；步骤107：重复步骤102至步骤106，直至获得所有n个标准样品的β克微量子样平均粒径Dmi,1、全样平均粒径Dmi,m和最小有效取样量Wcri；步骤108：以β克微量子样平均粒径Dmi,1为自变量，全样平均粒径Dmi,m为因变量，计算Dmi,1和Dmi,m一阶线性拟合曲线的90％置信区间上边界并拟合自变量Dmi,1和因变量组成下述b式表示的多项式方程： 式中，k1、k2、k3和k4为拟合常数；步骤109：以步骤107所得全样平均粒径Dmi,m为自变量，样品最小有效取样量Wcri为因变量，得下述c式表示的线性拟合方程：Wcri＝k5Dmi,m+k6c；式中，k5和k6为拟合常数；步骤110：将上述b式代入c式，得到由下述d式表示的最小有效取样量偏保守的估算经验公式Wcri：Wcri＝k5k1Dmi,13+k2Dmi,12+k3Dmi,1+k4+k6d。

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百度查询： 华东师范大学 干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量的预估方法