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申请/专利权人：深圳雪峰电子有限公司

摘要：本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种基于图像技术的电子雷管模块外观检测方法及系统。该方法包括以下步骤：获取电子雷管图像，并进行范围划分，获得电子雷管模块范围图像以及电子雷管线路范围图像；基于电子雷管模块范围图像以及电子雷管线路范围图像进行结构分析，获得电子雷管结构模型；根据电子雷管模块范围图像构建电子雷管模块三维模型；基于电子雷管模块三维模型进行评估，获得模块外观完整性数据；基于电子雷管结构模型以及电子雷管模块三维模型进行完整性评估，获得模块连接线路完整性数据；对电子雷管结构模型进行电子雷管异常结构参数化描述，获得电子雷管异常结构模型。本发明能提高电子雷管模块外观检测的准确性。

主权项：1.一种基于图像技术的电子雷管模块外观检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：获取电子雷管图像，并对电子雷管图像进行多通道色彩空间增强，从而获得电子雷管增强图像；对电子雷管增强图像进行雷管模块范围划分，从而获得电子雷管模块范围图像以及电子雷管线路范围图像；步骤S2：基于电子雷管模块范围图像以及电子雷管线路范围图像进行电子雷管模块拓扑结构分析，从而获得电子雷管结构模型；步骤S3：对电子雷管模块范围图像进行多层次深度特征提取，从而获得雷管模块深度特征数据，并基于电子雷管模块范围图像以及雷管模块深度特征数据构建电子雷管模块三维模型；步骤S4：基于电子雷管模块三维模型进行模块外观完整性评估，从而获得模块外观完整性数据，步骤S4具体为：步骤S41：对电子雷管模块三维模型进行模块表面平滑性评估，从而获得模块表面平滑性数据；步骤S42：对电子雷管模块三维模型进行模型边缘结构提取，从而获得模块边缘结构模型；步骤S43：对模块边缘结构模型进行模块边缘裂缝检测，从而获得模块边缘裂缝数据，并基于模块边缘裂缝数据进行模块边缘完整性评估，从而获得模块边缘完整性数据；步骤S44：基于模块边缘完整性数据以及模块表面平滑性数据构建完整性评估体系；步骤S45：通过完整性评估体系对电子雷管模块三维模型进行模块完整性评估，从而获得模块外观完整性数据；步骤S5：基于电子雷管结构模型以及电子雷管模块三维模型进行雷管模块连接线路完整性评估，从而获得模块连接线路完整性数据，步骤S5具体为：步骤S51：对电子雷管结构模型进行连接线路结构提取，从而获得雷管连接线路结构模型；步骤S52：对雷管连接线路结构模型以及电子雷管模块三维模型进行雷管模块连接线路关联，从而获得模块连接线路数据；步骤S53：对模块连接线路数据进行连通完整性评估，从而获得模块连接线路完整性数据；步骤S6：基于模块连接线路完整性数据以及模块外观完整性数据对电子雷管结构模型进行电子雷管异常结构参数化描述，从而获得电子雷管异常结构模型。

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