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基于光谱数据的岩石特性测量 

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申请/专利权人:斯伦贝谢技术有限公司

摘要:可以使用表示地质地层内的元素浓度的数据来确定地质地层的岩石特性。例如,表示地质地层内的元素浓度的数据可以作为输入提供给映射函数。映射函数可以捕获地质岩层中的可测量元素的浓度与所述岩层的某些岩石特性之间的非线性关系。本公开的实施例涉及改进地质地层的岩石特性的确定的技术。

主权项:1.一种用于表征地质地层的方法,包括:至少部分地基于所述地质地层的至少一个测量来获得表征所述地质地层中的一组一种或多种元素的浓度的数据;提供表征所述地质地层中的一组一种或多种元素的浓度的数据作为非线性映射函数的输入;以及接收表征所述地质地层的至少一个参数作为输出,其中表征所述地质地层的至少一个参数表示所述地质地层的一个或多个岩石特性的值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 斯伦贝谢技术有限公司 基于光谱数据的岩石特性测量

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