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申请/专利权人：国鲸科技(广东横琴粤澳深度合作区)有限公司

摘要：本发明提供一种基于集成电路的半导体自动布局系统，涉及自动布局技术领域，其系统包括：获取集成电路设计需求，自动生成集成电路的半导体初始布局；获取集成电路设计约束，对所述半导体初始布局进行布局约束；进行布局区域划分，基于布局区域之间的相关性、集成电路的半导体布局顺序性以及集成电路的半导体布局结构性进行布局优化；进行布局评价，当布局评价合格时，输出所述半导体布局优化结果；有效实现了基于集成电路的半导体自动布局，确保了自动布局质量以及效率。

主权项：1.一种基于集成电路的半导体自动布局系统，其特征在于，包括：初始布局模块，用于获取集成电路设计需求，自动生成集成电路的半导体初始布局；布局约束模块，用于获取集成电路设计约束，对所述半导体初始布局进行布局约束，确定集成电路的半导体约束布局；布局优化模块，用于对所述半导体约束布局进行布局区域划分，基于布局区域之间的相关性、集成电路的半导体布局顺序性以及集成电路的半导体布局结构性进行布局优化，具体包括：布局结构性确定单元，用于对集成电路进行结构划分，确定集成电路的起始结构、中间结构以及结束结构；根据所述起始结构、中间结构以及结束结构的位置数据，对所述布局区域添加对应结构子标签；布局顺序性确定单元，用于划分结构层级并设定结构连接顺序规则，当连接结构处于不同结构层级时，根据起始结构层-中间结构层-结束结构层进行布局区域连接顺序确定；当连接结构处于同一结构层级时，待定结构之间的连接顺序；布局相关性确定单元，用于根据各布局区域的中心位置数据，确定各布局区域之间的直线距离数据；分别提取各布局区域的集成电路器件的特征数据，确定各布局区域特征数据的特征相似度；根据历史特征相似度划分比例结合所述特征相似度量化确定布局区域的特征相似度范围并划分低特征相似度范围、中特征相似度范围以及高特征相似度范围；根据所述特征相似度范围确定所述特征相似度的范围量化校正值，结合所述各布局区域之间的直线距离数据、所述特征相似度计算布局区域的布局相关性量化总值；布局评价模块，用于对所述半导体布局优化结果进行布局评价，当布局评价合格时，输出所述半导体布局优化结果。

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