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申请/专利权人：深圳软艺电子科技有限公司

摘要：本发明公开了一种1+1+N的齿轮组掉电位置记忆方法，包括主动轮、验证轮和周期轮，所述主动轮中心镶嵌第一专用磁铁，所述验证轮中心镶嵌第三专用磁铁，所述周期轮中心镶嵌第二专用磁铁；上述的三个磁铁的上方对应三个磁编码芯片，用以读取对应磁铁所在齿轮的单圈位置值，第一磁编码芯片对应VAL1，第二磁编码芯片对应VAL2，第三磁编码芯片对应VAL3。本发明，上述方法成本低廉，且稳定可靠，传动部分极为简单，可适应高速的运行情形，目前已经在实物上实验验证，具备极强的实用推广价值，验证轮的数量可以根据实际需求和实际安装空间考虑，从0到N按需取值，计算方法按上述描述类推。

主权项：1.一种1+1+N的齿轮组掉电位置记忆方法，其特征在于，包括主动轮1、验证轮3和周期轮2，所述主动轮1中心镶嵌第一专用磁铁101，所述验证轮3中心镶嵌第三专用磁铁103，所述周期轮2中心镶嵌第二专用磁铁102；上述的三个磁铁的上方对应三个磁编码芯片，用以读取对应磁铁所在齿轮的单圈位置值，第一磁编码芯片101对应VAL1，第二磁编码芯片102对应VAL2，第三磁编码芯片103对应VAL3；具体计算步骤如下：S1、上电时，读取VAL1VAL2VAL3的值；S2、根据VAL1的值计算主动轮1的单圈位置角度POS1；根据VAL2的值计算周期轮2的单圈位置角度POS2；如果POS2＝POS1，X＝POS1-POS2*33360；如果POS2POS1，X＝360+POS1-POS2*3336；S3、总圈数Z＝X+Y*33，其中Y取值为小于循环次数的自然数，这里为0-16；S4、将上述Y从0-16依次代入上述公式，得到主动轮1的总圈数Z后，可以反推验证轮3的圈数以及当前理论的单圈编码值；S5、将验证轮3的17组理论单圈编码值和实际单圈编码值VAL3作比较，即可得出实际的Y值；S6、将X取整后得到XZ，那么最终的多圈位置值VAL由以下公式求得：VAL＝XZ+Y*33*K+VAL1；S7、首次计算出VAL后，后续带电期间位置变动，只需计算VAL1的差值，然后在VAL的基础上做相应的差值加减，即可得到变化后的VAL值，快速方便且对MCU的资源要求极低。

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