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申请/专利权人：中国科学院微电子研究所
摘要：本申请公开了一种嵌入式系统的测试方法、装置及设备，涉及测试技术领域，能够对待测试系统进行针对性的测试，提高测试效率。其中方法包括：响应于至少一次的系统测试指令，根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例，利用目标测试用例生成的测试信号，获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号，根据测试信号与重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励，对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新，使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励，当迭代次数到达设定次数时，根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型。
主权项：1.一种嵌入式系统的测试方法，其特征在于，包括：响应于至少一次的系统测试指令，根据每次系统测试指令携带的类型参数在相应测试类型的测试用例集中选取目标测试用例；利用所述目标测试用例生成的测试信号，获取待测试系统经过信号处理得到的重构信号；根据所述测试信号与所述重构信号计算得到待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励，对待测试系统在不同测试类型上的平均奖励进行更新；使用更新后的平均奖励重复迭代选取目标测试用例以计算待测试系统执行目标测试用例后的瞬时奖励，当迭代次数到达设定次数时，根据瞬时奖励的累计值确定待测试系统的故障测试类型。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院微电子研究所 嵌入式系统的测试方法、装置及设备
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