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申请/专利权人:胜科纳米(苏州)股份有限公司
摘要:本发明提供了一种超薄悬空膜透射电镜样品的制备方法,所述制备方法包括以下步骤:1使用铪源和氧源在悬空膜的表面交替进行多层原子层沉积,得到氧化铪层;2采用聚焦离子束在步骤1所述氧化铪层的表面依次沉积碳和金属薄膜,制得悬空膜透射电镜样品。所述制备方法通过在低温下依次交替沉积生长硬质HfO2保护层,可快速获得无变形的膜层;同时交替生长的HfO2可释放ALD生长过程中膜层本身的应力,在后续FIB制备过程中可以保持悬空膜结构的稳定且不损伤悬空膜,获得真实的悬空结构信息,保证后期TEM表征数据真实可靠。
主权项:1.一种超薄悬空膜透射电镜样品的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:(1)使用铪源和氧源在悬空膜的表面交替进行至少两层原子层沉积,得到氧化铪层;所述原子层沉积的温度为50-60℃;所述原子层沉积过程中:铪源的通入时间为55-65mScycle,氧源的通入时间为55-65mScycle;所述悬空膜的单面氧化铪层的总厚度≥30nm;(2)采用聚焦离子束在步骤(1)所述氧化铪层的表面依次沉积碳和金属薄膜,制得悬空膜透射电镜样品。
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