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缺陷检测系统 

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申请/专利权人:福州恒美光电材料有限公司

摘要:本申请涉及一种缺陷检测系统,用于偏光膜裁切的缺陷检测,系统包括输送设备,输送设备用于输送偏光膜;系统还包括:光学检查设备以及沿输送设备的膜流方向依次设置的矢印喷印设备、裁切设备和分片设备;矢印喷印设备用于喷印图案至偏光膜上;光学检查设备用于获取偏光膜上的标记信息,标记信息包括缺陷信息和矢印喷印设备喷印至偏光膜上的图案信息;裁切设备用于获取标记信息后的偏光膜的裁切;分片设备用于对裁切后的偏光片的良品和不良品的区分收料。本申请通过光学检查设备获取光学缺陷和矢印喷印的图案信息,在整个输送过程中对偏光膜进行全面检测,确保产品质量。

主权项:1.一种缺陷检测系统,用于偏光膜裁切的缺陷检测,所述系统包括输送设备,所述输送设备用于输送所述偏光膜;其特征在于,所述系统还包括:光学检查设备以及沿所述输送设备的膜流方向依次设置的矢印喷印设备、裁切设备和分片设备;所述矢印喷印设备用于喷印图案至所述偏光膜上;所述光学检查设备用于获取所述偏光膜上的标记信息,所述标记信息包括缺陷信息和所述矢印喷印设备喷印至所述偏光膜上的图案信息;所述裁切设备用于获取所述标记信息后的所述偏光膜的裁切;所述分片设备用于对裁切后的偏光片的良品和不良品的区分收料。

全文数据:

权利要求:

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