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申请/专利权人：安徽省地质实验研究所(国土资源部合肥矿产资源监督检测中心)
摘要：本发明公开了一种标准物质均匀性检验方法，包括以下步骤：设置样品环的最小称样量为0.1000g；采用X射线荧光光谱微区分析技术，按如下方法对均匀性检查样品其中Si、Al元素进行均匀性检验；制备均匀性检查样品试料片，并按上述同样的测定条件，依次测定均匀性检查样品试料片Si、Al等元素的谱线强度，计算Si、Al的含量；根据均匀性检查样品Si、Al的含量结果，采用统计学原理检验标准物质的均匀性。本发明将X射线荧光光谱微区分析技术应用于标准物质研制的均匀性检验，解决了土壤、水系沉积物标准物质研过程中Si元素和Al元素的均匀性检验问题。
主权项：1.一种标准物质均匀性检验方法，其特征在于，包括以下步骤：1设置样品环的最小称样量为0.1000g；2称取0.1g国家一级标准物质和待测样品，放入低压聚乙烯样品环中制成试料片；3将试料片放入样品盒中，选择1mm的视野光栏和真空光路20Pa，使用X射线荧光光谱仪按测定条件依次测定试料片Si、Al元素的谱线强度；4，校准、基体效应校正和谱线重叠干扰校正采用数学方法进行回归，计算Si、Al的含量；5根据均匀性检查样品Si、Al的含量结果，采用统计学原理检验标准物质的均匀性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽省地质实验研究所(国土资源部合肥矿产资源监督检测中心) 一种标准物质均匀性检验方法
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