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申请/专利权人:浙江理工大学
摘要:本发明公开了一种基于高光谱成像技术的原棉杂质含量测定方法,包括以下步骤:1收集大量的原棉棉包试样,对试样进行杂质含量标定;2采集备用试样的高光谱图像;3对获得的高光谱数据进行预处理;4基于杂质和棉花光谱曲线的定性判定模型的建立;5提取经过步骤2、3的高光谱图像的每一个像素点;带入步骤4中判定模型;6将未知试样的高光谱数据,经步骤2、3采集高光谱数据及处理,与现有技术相比,能够对待测试样进行高效快速的大批量检测。
主权项:1.一种基于高光谱成像技术的原棉杂质含量测定方法,其特征在于:包括以下步骤:1收集大量的原棉棉包试样,对试样进行杂质含量标定;2采集备用试样的高光谱图像;3对获得的高光谱数据进行预处理;4基于杂质和棉花光谱曲线的定性判定模型的建立;5提取经过步骤2、3的高光谱图像的每一个像素点;带入步骤4中判定模型,经过判定后,标记为棉花信息的像素点数量为a,非棉花信息像素点数量为b,则总像素点数量为a+b,统计非棉花信息像素点占所有像素点的比例为ba+b,对每一个含杂率标签所对应的棉包的高光谱图像进行上述处理,若非棉花信息像素点占所有像素点的比例为ba+b,其所对应真实含杂率标签为c,对两者之间的数据进行高斯函数拟合,再模型优化后,得到最终的杂质含量测定方法;6将未知试样的高光谱数据,经步骤2、3采集高光谱数据及处理,提取每一个像素点数据,输入到步骤4获得的模型,统计非棉花信息像素点占所有像素点的比例,再代入到步骤5所获取的拟合函数中,即可得到其含杂率信息。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 浙江理工大学 一种基于高光谱成像技术的原棉杂质含量测定方法
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